拉曼結晶學(Raman Crystallography)

 在材料科學研究中，XRD經常用來做為材料相鑑定及結晶結構解析之工具。然而，基於X光散射之分析方法有以下限制。

第一，X光分析方法很大程度上，取決於材料中各元素對X光之散射強度，以鉍基氧化物為例，鉍周期表上不具有放射性之最高原子量元素，因此其擁有最高之X光散射強度，在鉍基氧化物之X光繞射圖譜中，因為鉍具有最高之X光散射強度，因此其X光繞射圖譜只能呈現結構中Bi之對稱性，而無法呈現O之對稱性。

另一方面，Raman光譜可做為鉍基材料結構鑑定之互補工具，然而這個方法目前仍有許多問題有待解決。在X光結晶學中，只要給定特定材料之結晶結構，即可以使用Fourier轉換，得到該結晶結構之理論X光繞射圖譜。

然而在Raman 光譜之研究中，目前仍然依賴群論分析、DFPT理論等工具，進行特定結晶結構之理論Raman光譜計算，受限於目前計算速度之限制，尚難以快速迭代之方式，針對特定Raman光譜逆向求得其材料之結晶結構。